2019年5月17日学术报告

编辑:吴秦时间:2019-05-15点击数: 来源:  

题目:

空间辐射效应及集成电路加固技术

报告人: 周昕杰 博士/博士后,研究员

中国电子科技集团公司第五十八研究所抗辐射重点实验室副主任

主持人: 虞致国 副教授

时间:2019517(星期五)上午10:00

地点:物联网工程学院B240


报告人简介

师从中国工程院许居衍院士,长期从事抗辐射集成电路设计工作,电路类型包括单元库、接口、存储器、PLL等,曾在欧洲微电子研究中心(IMEC)访学。主持完成十多项国家重大项目,多次荣获中国电科、国防科工局科学技术进步奖,发表SCI/EI收录学术论文十余篇,授权国家专利八项。


报告内容简介

辐射环境以及对集成电路的影响,空间辐射环境产生的总剂量效应和单粒子效应机理,总剂量效应及单粒子效应加固技术以及在纳米级体硅CMOS电路中的加固技术,体硅CMOS工艺和SOI工艺辐射效应的比较。


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物联网工程学院

2019515


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